1、厚度范圍：0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定（要測量zui全的范圍需要使用單晶選項）
2、自動回波到回波（可選）：在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。
3、穿透涂層測量 （可選）：利用單個底面回波，測量金屬的實際厚度和涂層厚度（使用D7906-SM和D7906探 頭）
4、探頭頻率范圍
標準：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）
高穿透（單晶選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
5、單晶探頭測量模式（可選）
模式1：激勵脈沖與個底面回波之間的時間間隔。
模式2：延遲塊回波與個底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊或水浸式探頭）
模式3：在激勵脈沖之后，位于個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲塊探頭或水浸式探頭）。
6、雙晶探頭測量模式：從激勵脈沖后的延遲到個回波之間的時間間隔。
7、標準分辨率：0.01毫米（0.001英寸）
8、單晶選項：0.001毫米（0.0001英寸）
9、分辨率（可選擇）：低分辨率：0.1毫米（0.01英寸）
10、材料聲速范圍 ：0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
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